歡迎您來到北京東孚久恒儀器技術有限公司網站！
RELEVANT ARTICLES
小麥外觀品質分析儀采用圖像分析技術與人工智能AI技術，實現(xiàn)小麥不完善粒的全自動快速檢測，可同時檢測小麥的不完善粒含量以及病斑粒、生霉粒、蟲蝕粒、破損粒、生芽粒含量。
在線咨詢
版權所有 © 2025 北京東孚久恒儀器技術有限公司 sitemap.xml 備案號：京ICP備14051767號-1 總訪問量：502174 管理登陸
聯(lián)系我們
網址：www.landsshine.cn
郵箱：info@graininstru.com
地址：北京市西城區(qū)百萬莊大街11號
掃一掃，關注我們
在線咨詢
電話咨詢
